SEM掃描電鏡 場發射掃描電子顯微鏡 超高分辨率場發射掃描電子顯微鏡 SU9000

新的電子槍和電子光學設計提高了低加速電壓性能。

0.4 nm / 30 kV (SE)

1.2 nm / 1 kV (SE)

0.34 nm / 30 kV (STEM)

用改良的高真空性能和無與倫比的電子束穩定性來實現高效率截面觀察。

采用全新設計的Super E x B能量過濾技術，高效，靈活地收集SE / BSE/ STEM信號。